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发布时间: 2017 - 07 - 12
R&S CMW500是罗德与施瓦茨公司新一代的无线设备空中接口测试的综合性测试仪,它采用R&S智能校准技术,测试速度非常快,同时集成了矢量信号发生器和分析仪功能,从而为实现先进的非信令校准技术创造了前提。R&S CMW500具有极高的可扩展性、测试速度和测量精度。R&S CMW500可用在产品开发和生产的所有阶段,支持所有常见蜂窝和非蜂窝无线技术。
发布时间: 2017 - 07 - 12
详细说明:8960无线通信测试仪包括GSM、GPRS、EDGE、CDMA2000、1xEV-DO、WCDMA、HSUPA、HSDPA、TD-SCDMA、HSPA+ 的手机移动通信设备测试应用选件。8960系列测试仪具有快速、精确、自动测试所需的所有功能和性能。测试速度提高达30倍对移动电话制造商来说,8960系列无线通信测试仪的速度和并行测量能力能立即转化为竞争优势。以速度为目标设计的8960系列无线通信测试仪能大大减少测量时间,从而有助于降低分摊到每部电话的制造费用。在进行各种测试时,它比以前的仪器快10到30倍。易于编程和控制该测试仪的远地用户接口(RUI)可使用高级测试命令进行测量和检索结果。测试仪内装有高级测试和复杂测量的处理算法,并在内部运行,因而能减少总线信息流量,增加测量的总体吞吐能力。由于RUI只需很少几行代码,因而易于把测试装置集成到您的制造环境中。您的程序员会发现只需短短几行代码,就能容易地编写、维护和升级测试程序。符合多种无线通信标准的测试要求
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主要特性和功能套装解决方案可执行高达 67 GHz 的毫米波有源器件表征包括 N5247B 67 GHz PNA-X(配有选件 423/020/021/022/029)、S93007/25/29/83/84/86/87/89B 应用软件、N4694D 电子校准件、U8488A USB 功率传感器、U9391G、N1966A 和四条 1.85mm 测试电缆。性能与 N5247B PNA-X 不相上下
主要特性和功能套装解决方案可测试高达 50 GHz 的变频器。N5245BP 包括 N5245B 4 端口 50 GHz PNA-X(配有选件 423)、S93007B/83B/84B 应用软件、N4693D 50 GHz 电子校准件、U8487A 50 GHz USB 功率传感器和四条 2.4 mm 测试电缆。测量性能与 N5245B PNA-X 不相上下。
主要特性和功能套装解决方案为 5G 应用提供高达 50 GHz 的有源器件表征。包括 N5245B 50GHz PNA-X(配有选件 423/020/021/022/029)、S93007/25/29/83/84/86/87/89B 应用软件、N4693D 电子校准件、U8487A USB 功率传感器、U9391F、N1966A 和四条 2.4mm 测试电缆。性能与 N5245B PNA-X 不相上下。
主要特性和功能套装解决方案为 5G 应用提供高达 43.5 GHz 的有源器件表征。包括 N5244B 43.5 GHz PNA-X(配有选件 423/020/021/022/029)、S93007/25/29/83/84/86/87/89B 应用软件、N4693D 电子校准件、U8487A USB 功率传感器、U9391F、N1966A 和四条 2.4mm 测试电缆。性能与 N5244B PNA-X 不相上下。
主要特性和功能在全部 5 个测量通道上均可实现高达 400,000 点/秒的数据采集速率,为天线测试树立了新的行业标杆可用接收机数量是市场上大部分其他天线接收机的两倍取代现有的 8530A 和 8360 解决方案,系统速度提高到 10 倍内置 8510/8530A 代码仿真软件,替代现有天线应用范围中使用的 8530A
主要特性和功能具有紧凑型频率扩展器的单次扫描解决方案可以作为单个产品解决方案购买对器件施加精确的调平功率,进行功率扫描提供各种应用软件,帮助您进行详细分析
主要特性和功能具有紧凑型频率扩展器的单次扫描解决方案可以作为单个产品解决方案一次性购买对器件施加精确的调平功率,进行功率扫描提供各种应用软件,帮助您进行详细分析
主要特性和功能对无源元器件和简单的有源器件执行基本分析适用于对成本非常敏感的应用,可以在高达 8.5 GHz 的频率范围内精确测量 S 参数具有出色的性价比,可用于微波器件制造测试可以配置经济型解决方案,用于信号完整性测量和材料表征多点触控屏和直观的用户界面加速对元器件特性的分析
主要特性和功能对无源元器件和简单的有源器件执行基本分析适用于对成本非常敏感的应用,可以在高达 13.5 GHz 的频率范围内精确测量 S 参数具有出色的性价比,可用于微波器件制造测试可以配置经济型解决方案,用于信号完整性测量和材料表征多点触控屏和直观的用户界面加速对元器件特性的分析
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