获得卓越的测量和设计成果通过取代大量机架式和堆叠式设备来简化测试站全面、灵活的单次连接微波测试引擎可提高生产效率使用广泛的单次连接测量应用软件可缩短测试时间使用 PNA-X 更精确地测试线性和非线性器件的特征
获得卓越的测量和设计成果PNA 提供出色的测量完整性，可将深入的洞察转变为出色的设计使用性能出众的微波网络分析仪，应对苛刻的测量挑战是德科技 S 参数测量有很高的精度通过个性化配置得到恰当的性能，以满足您特定的预算和测量需求
T/R 或 S 参数综合测试仪50 或 75 欧姆测试端口阻抗120 dB 的动态范围和 0.005 dB rms 的迹线噪声内置 Visual Basic® 应用程序设计语言（VBA）
非常适合对同轴器件或晶圆器件进行表征、建模和参数提取对器件施加精确的调平功率，进行功率扫描使用唯一集成三轴偏置 T 型接头的宽带解决方案，精确控制器件的偏置状态可购买单一产品解决方案或由多个单独元器件组成的配置分段毫米波解决方案可在高达 1.1 THz 的频率上测量 S 参数
T/R 或 S 参数综合测试仪50 或 75 欧姆测试端口阻抗120 dB 的动态范围和 0.005 dB rms 的迹线噪声内置 Visual Basic® 应用程序设计语言（VBA）
2 端口，50 Ω，S 参数测试仪选择最适合您的测试需求和预算的频率选件，并可随时升级选件利用工业标准 ENA 系列始终如一的测量架构，提高生产效率和效益使用选件 011 增强 PCB 制造测试功能显示界面支持 6 种语言，提供英语/简体中文的功能键和嵌入式帮助手册，使操作变得更加简单
提供各种测试仪选件，让您选择最适合自身测试需求的配置：100 kHz 至 1.5 GHz/3 GHz，2 端口，50 或 75 Ω，传输/反射或 S 参数测试仪使用低频-射频选件（选件 3L5）满足各类应用需求：5 Hz 至 3 GHz，2 端口，50 Ω，S 参数测试仪，增益相位测试端口，内置的直流偏置源在单台仪器中整合了网络分析和阻抗分析功能，针对您的应用量身定制（选件 3L5 和 005）
速度和性能的正确组合给您带来竞争优势是德科技性能出众的中档 VNA 让您实现更高的良率和更紧凑的保护频带提供更高的吞吐量和可重复性，将卓越的设计转化为有竞争力的产品提供适应未来需求的功能，执行快速、精确的 S 参数测量具有出色的性价比，可用于微波器件制造测试
30 kHz 至 4.5 GHz 和 8.5 GHz2端口具有 130 dB/151 dB 的宽动态范围（直接接入接收机）、7 ms 测量速度和 0.005 dB/°C 的出色温度稳定性，可改善测量精度、提高产品良率并增加设计裕量具有 -109 至 +20 dBm 的宽信号源功率范围，可提高测试的灵活性，适用于线性和非线性器件表征所有选件均可升级，保护您的投资